飛納電鏡

場發射掃描電鏡 LE

肖特基場發射電子源

分辨率優于 2.5 nm @ 15 kV

 B(5)— Am(95)元素探測

無需噴金直接觀察絕緣體

內置真空鎖,15 s 抽真空

大樣品室卓越版 XL

最快的樣品加載速度

全自動馬達控制樣品台

樣品倉大小 100 mm X 100 mm

背散射電子探測器(可拓展二次電子探測器)

可選配能譜儀

電鏡能譜一體機 ProX

電鏡能譜集成一體機(可拓展二次電子探測器)

放大倍數高達 15 萬倍,分辨率優于 8 nm

元素分析範圍 B(5)— Am(95)號

加速電壓 5-15 kV  連續可調

抽真空時間小于 15 秒

高分辨率專業版 Pro

基于 CeB6 燈絲的高分辨圖像

放大 150,000 倍,分辨率優于 8 nm

加速電壓 5-15 kV  連續可調

1500 小時燈絲壽命,2-3 年更換

抽真空時間小于 15 秒

高性價比標準版 Pure

經濟節約型

放大倍數 65,000 倍,分辨率優于 25 nm

1500 小時 CeB燈絲

抽真空時間小于 15 秒

全自動馬達樣品台

槍擊殘留物分析 GSR

基于 CeB6 燈絲的高分辨圖像

直觀易用的 GSR 軟件

高吞吐量,一次性放置多達 36 個試樣

操作簡單,永不丟失導航系統,完全集成能譜儀

測量結果準確可靠,廣泛兼容法醫領域的各類應用

熒光電鏡一體機 CLEM

完全整合的光電關聯顯微鏡

使用簡單和快速的工作流程

佔地小,無需特別的安裝環境

自動 藻檢驗

快速 藻檢驗

降低使用成本,提高工作效率

多種刑偵檢測用途(選配能譜儀)

全程導航定位和位置回溯功能

新聞中心

圖片展示

案例分析

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